一、设计高压测试系统，从更智能的开关开始

高压测试系统正朝着更严苛的容差、更高的通道密度和更快的吞吐量持续演进。在这一进程中，开关性能已不再是锦上添花的配角，它已成为测量系统精度链中的核心环节。

本期内容，我们将直击工程师在实际设计中绕不开的棘手挑战，并带来全新继电器解决方案，助您在高压环境下从容提升信号完整性、系统可扩展性与长期可靠性。

二、以精密开关赋能高压测试系统设计

从半导体ATE到电缆/线束测试，现代应用对开关方案的要求只有一个标准：测量精度，不容妥协。

三大核心设计挑战

• 漏电流——悄无声息地侵蚀高阻抗测量精度

• 寄生电容——拖慢建立时间，引发通道间串扰

• 高压隔离——在紧凑布局中实现，更是难上加难

您将收获什么

• 开关选型如何从根本上影响系统整体精度

• 从布局到元器件，精准施策降低寄生效应对策

• 高压场景下，各类干簧继电器技术的优劣取舍

三、SHV‑2A 高压干簧继电器系列

为高密度测试架构而生，精度毫不妥协:

• 切换电压高达 1.0–1.5 kV （耐压达 3 kV ）

• 电容低至约 0.5 pF，信号失真极小

• 绝缘电阻达 TΩ 级，实现超低泄漏性能

• 紧凑型 2× Form A 配置，支持更高通道密度

干簧继电器与光电耦合器产品组合，专为高可靠性开关应用而打造，全面覆盖ATE、半导体测试、电动汽车、数据中心、可再生能源、电池管理、医疗及工业自动化等关键领域。

四、在每个测试周期中融入工程精度

• 更可靠的半导体器件验证，让测试结果经得起推敲

• 更高置信度的安全测试与合规保障

• 可灵活扩展的系统架构，信号性能绝不妥协